測(cè)量這個(gè)概念太廣了。僅測(cè)繪學(xué)就分,大地測(cè)量,海洋測(cè)繪,工程測(cè)量,房產(chǎn)測(cè)量,等等。測(cè)繪學(xué)里還包含了攝影測(cè)量,遙感,還有地圖制圖。
根據(jù)不同的用途和目的,測(cè)繪的方法也不一定相同,要求也不一樣。
要量測(cè)某量的大小,就需要相應(yīng)的度量單位,通常測(cè)量里用到的有長(zhǎng)度,角度,面積。亦也有溫度,重量,時(shí)間等等。
測(cè)量應(yīng)用的領(lǐng)域太廣泛,測(cè)量方法實(shí)在很多,總的來說,測(cè)量方法依據(jù)相關(guān)規(guī)范,得出的結(jié)果經(jīng)過統(tǒng)一認(rèn)識(shí),認(rèn)可就行。
舉幾個(gè)常用測(cè)量方法,距離測(cè)量,角度測(cè)量,視距測(cè)量,,,水準(zhǔn)測(cè)量。
按測(cè)量方式可分:
1、直接測(cè)量:無需對(duì)被測(cè)量與其他實(shí)測(cè)量進(jìn)行一定函數(shù)關(guān)系的輔助計(jì)算而直接得到被測(cè)量值得測(cè)量。
2、間接測(cè)量:通過直接測(cè)量與被測(cè)參數(shù)有已知函數(shù)關(guān)系的其他量而得到該被測(cè)參數(shù)量值的測(cè)量。
3、接觸測(cè)量:儀器的測(cè)量頭與工件的被測(cè)表面直接接觸,并有機(jī)械作用的測(cè)力存在(如接觸式三坐標(biāo)等)。
4、非接觸測(cè)量:儀器的測(cè)量頭與工件的被測(cè)表面之間沒有機(jī)械的測(cè)力存在(如光學(xué)投影儀、氣動(dòng)量?jī)x測(cè)量和影像測(cè)量?jī)x等)。
5、組合測(cè)量:如果被測(cè)量有多個(gè),雖然被測(cè)量(未知量)與某種中間量存在一定函數(shù)關(guān)系,但由于函數(shù)式有多個(gè)未知量,對(duì)中間量的一次測(cè)量是不可能求得被測(cè)量的值。這時(shí)可以通過改變測(cè)量條件來獲得某些可測(cè)量的不同組合,然后測(cè)出這些組合的數(shù)值,解聯(lián)立方程求出未知的被測(cè)量。
6、比較測(cè)量:比較法是指被測(cè)量與已知的同類度量器在比較器上進(jìn)行比較,從而求得被測(cè)量的一種方法。這種方法用于高準(zhǔn)確度的測(cè)量。
按測(cè)量方法可分:
1、直接測(cè)量法:不必測(cè)量與被測(cè)量有函數(shù)關(guān)系的其他量,而能直接得到被測(cè)量值的測(cè)量方法。
2、間接測(cè)量法:通過測(cè)量與被測(cè)量有函數(shù)關(guān)系的其他量來得到被測(cè)量值的測(cè)量方法。
3、定義測(cè)量法:根據(jù)量的定義來確定該量的測(cè)量方法。
4、靜態(tài)測(cè)量方法:確定可以認(rèn)為不隨時(shí)間變化的量值的測(cè)量方法。
5、動(dòng)態(tài)測(cè)量方法:確定隨時(shí)間變化量值的瞬間量值的測(cè)定方法。
6、直接比較測(cè)量法:將被測(cè)量直接與已知其值的同種量相比較的測(cè)量方法。
7、微差測(cè)量法:將被測(cè)量與只有微小差別的已知同等量相比較,通過測(cè)量這兩個(gè)量值間的差值來確定被測(cè)量值的測(cè)量方法。
擴(kuò)展資料:
系統(tǒng)誤差產(chǎn)生的原因:
1、傳感器、儀表不準(zhǔn)確(刻度不準(zhǔn)、放大關(guān)系不準(zhǔn)確)
2、測(cè)量方法不完善(如儀表內(nèi)阻未考慮)
3、安裝不當(dāng)
4、環(huán)境不合
5、操作不當(dāng)
系統(tǒng)誤差的判別:
1、實(shí)驗(yàn)對(duì)比法,例如一臺(tái)測(cè)量?jī)x表本身存在固定的系統(tǒng)誤差,即使進(jìn)行多次測(cè)量也不能發(fā)現(xiàn),只有用更高一級(jí)精度的測(cè)量?jī)x表測(cè)量時(shí),才能發(fā)現(xiàn)這臺(tái)測(cè)量?jī)x表的系統(tǒng)誤差;
2、殘余誤差觀察法(繪出先后次序排列的殘差);
3、準(zhǔn)則檢驗(yàn)法
馬利科夫判據(jù)是將殘余誤差前后各半分兩組, 若“Σvi前”與“Σvi后”之差明顯不為零, 則可能含有線性系統(tǒng)誤差。
阿貝檢驗(yàn)法則檢查殘余誤差是否偏離正態(tài)分布, 若偏離, 則可能存在變化的系統(tǒng)誤差。將測(cè)量值的殘余誤差按測(cè)量順序排列,且設(shè)A=v12+v22+…+vn2, B=(v1-v2)2+(v2-v3)2?+…+(vn-1-vn)2+(vn-v1)2。
若|B/2A-1|>1/n^1/2,則可能含有變化的系統(tǒng)誤差。
系統(tǒng)誤差的消除:
1、在測(cè)量結(jié)果中進(jìn)行修正 已知系統(tǒng)誤差, 變值系統(tǒng)誤差, 未知系統(tǒng)誤差
2、消除系統(tǒng)誤差的根源
3、在測(cè)量系統(tǒng)中采用補(bǔ)償措施
4、實(shí)時(shí)反饋修正
參考資料來源:百度百科-測(cè)量方法
1.直接測(cè)量和間接測(cè)量
按實(shí)測(cè)幾何量是否為欲測(cè)幾何量,可分為直接測(cè)量和間接測(cè)量。
1)直接測(cè)量
直接測(cè)量是指直接從計(jì)量器具獲得被測(cè)量的量值的測(cè)量方法。如用游標(biāo)卡尺、千分尺。
(2)間接測(cè)量
間接測(cè)量是測(cè)得與被測(cè)量有一定函數(shù)關(guān)系的量,然后通過函數(shù)關(guān)系求得被測(cè)量值。如測(cè)量大尺寸圓柱形零件直徑D時(shí),先測(cè)出其周長(zhǎng)L,然后再按公式D/求得零件的直徑D,如圖2-4所示。
2.絕對(duì)測(cè)量和相對(duì)測(cè)量
按示值是否為被測(cè)量的量值,可分為絕對(duì)測(cè)量和相對(duì)測(cè)量。
(1)絕對(duì)測(cè)量絕對(duì)測(cè)量是指被計(jì)量器具顯示或指示的示值即是被測(cè)幾何量的量值。如用測(cè)長(zhǎng)儀測(cè)量零件,其尺寸由刻度尺直接讀出。
(2)相對(duì)測(cè)量相對(duì)測(cè)量也稱比較測(cè)量,是指計(jì)量器具顯示或指示岀被測(cè)幾何量相對(duì)于已知標(biāo)準(zhǔn)量的偏差,測(cè)量結(jié)果為已知標(biāo)準(zhǔn)量與該偏差值的代數(shù)和。
一般來說,相對(duì)測(cè)量的測(cè)量精度比絕對(duì)測(cè)量的要高。
3.接觸測(cè)量和非接觸測(cè)量
按測(cè)量時(shí)被測(cè)表面與計(jì)量器具的測(cè)頭是否接觸,可分為接觸測(cè)量和非接觸測(cè)量
(1)接觸測(cè)量接觸測(cè)量是指計(jì)量器具在測(cè)量時(shí),其測(cè)頭與被測(cè)表面直接接觸的測(cè)量。如用卡尺、千分尺測(cè)量公交。
(2)非接觸測(cè)量非接觸測(cè)量是指計(jì)量器具在測(cè)量是,其測(cè)頭與被測(cè)表面不接觸的測(cè)量。如用氣動(dòng)量?jī)x測(cè)量孔徑和用顯微鏡測(cè)量工件的表面粗糙度。
擴(kuò)展資料:
從這個(gè)定義,我們就可以看出經(jīng)典物理的基本假設(shè):
1.時(shí)間是絕對(duì)的,其含義是時(shí)間流逝的速率與空間位置和物體的速率無關(guān);
2.空間是歐幾里德的,也就是說歐幾里德幾何的假設(shè)和定律對(duì)空間是成立的;
3.經(jīng)典物理的第三個(gè)假設(shè),就是質(zhì)點(diǎn)的運(yùn)動(dòng)可以用位置作為時(shí)間的函數(shù)來描述。
根據(jù)愛因斯坦的相對(duì)論,時(shí)間是相對(duì)的,空間也不是歐幾里德的,但是絕對(duì)時(shí)間和歐幾里德空間對(duì)低速運(yùn)動(dòng)(相對(duì)于光速)和宏觀世界是一個(gè)很好的近似,在相當(dāng)高的精度上是正確的。因此在經(jīng)典物理中使用這樣的假設(shè)是合理的。
根據(jù)第三個(gè)假設(shè),如果我們知道質(zhì)點(diǎn)的位置作為時(shí)間的函數(shù),而且我們知道了質(zhì)點(diǎn)的質(zhì)量,那么我們就知道了所能知道的關(guān)于這個(gè)質(zhì)點(diǎn)的一切知識(shí),由此可見,經(jīng)典物理的任務(wù)就是找出質(zhì)點(diǎn)的位置隨時(shí)間變化的函數(shù)。
參考資料:搜狗百科——測(cè)量方法
(l)用兩個(gè)方木塊和刻度尺配合進(jìn)行,如圖12.-4a所示。但應(yīng)注意,測(cè)量前應(yīng)檢查兩個(gè)方木塊是否能合嚴(yán)(即兩個(gè)與圓柱接觸的平面必須平行)
(2)用刻度尺直接在圓柱端面上測(cè)量。但測(cè)量時(shí)應(yīng)注意直徑是最長(zhǎng)的弦。
(3)用卡鉗和刻度尺進(jìn)行測(cè)量,如圖1.2-4b。
(4)取直徑小又可彎曲的圓柱(如鐵絲),把它繞在桿上,用刻度尺測(cè)出若干直徑之和,如圖1.2-5。
(5)用游標(biāo)卡尺、螺旋測(cè)微器等工具直接測(cè)量。其方法將在高中學(xué)生實(shí)驗(yàn)部分介紹。
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